姓名：李展平
职位：专家智库常务理事
组别：膜材料组
个人简介：
李展平，清华大学高级工程师。1979-1983年就读于广州中山大学物理系，获理学学士；
1983-1986年就读于清华大学无线电电子学系，获工学硕士；
2004-2005年就读于日本东北大学，获博士学位。
1986年6月-1991年4月留校任职于清华大学无线电电子学系，任助教、助理研究员。
1991年6月-2005年12月赴日本ULVAC-PHI 株式会社表面分析室工作，历任俄歇电子能谱(AES)、X射线光电子能谱(XPS)、二次离子质谱(SIMS)分析实验室主事(专家)。2006年1月通过人才引进到清华大学分析中心，任高级工程师。
已发表学术论文近六十篇。负责制定已发表的国际标准一个（ISO TS22933）、国家标准一个（GB/Z 32490），参与制定已发表的国家标准有15个。
荣获2023年度国际标准化组织ISO卓越奖。
荣获2019年度中国分析测试协会科学技术奖-CAIA一等奖。
荣获2020年中国标准创新贡献二等奖。
担任国际标准化组织ISO/TC201/SC6委员。
担任TC38/SC2 全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分技术委员会专家委员。
担任CSTM/FC98 科学试验领域委员会委员。
担任中国计量测试学会离子与原子探针专业委员会委员。
研究领域：
目前主要利用AES、XPS、SIMS等表面分析技术从事固体材料表面分析、结构表征以及生物样品分析等研究。
现主要负责飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）机组的管理、运行工作。
